賽多利斯電子天平Cubis II測量微小顆粒物，稱重準確
40CFR86.1312-2007 指南，由美國環(huán)境保護署（EPA）頒布，該指南中規(guī)定使用可讀性為 0.1 μg 的super微量天平測定顆粒物的數(shù)量。
賽多利斯電子天平 Cubis® II MCA2.7S-xxx-F 是一種特殊濾膜稱量天平，且符合這一嚴格規(guī)范。
內(nèi)置應(yīng)用程序，涵蓋微粒測量的完整工作流程，包括根據(jù)指南糾正空氣密度影響。
可連接氣候模塊，以便測量溫度和大氣壓力（自動計算和校正環(huán)境條件影響所需的直觀參數(shù)）
特殊設(shè)計的防風罩，以滿足濾膜稱量的特定人體工程學要求，并可減少環(huán)境干擾，例如過濾器上的靜電或來自操作人員的靜電。
組件由高級不銹鋼和鈦組成，可輕松取下進行有效清潔，這是處理納米顆粒時的一項特別重要的要求。
測定方法
用于測定顆粒物數(shù)量的重量法濾膜稱量是一種差分測量或反稱重程序。根據(jù)初始未污染過濾器的重量與其隨后負載排放微粒時的重量之差計算顆粒物量。
Cubis®II 微量天平可以連接到安裝在氣候塔模塊中的氣候模塊 YCM20，以便連續(xù)自動采集氣候數(shù)據(jù)?？蛇x的過濾顆粒物軟件應(yīng)用程序可指導(dǎo)操作人員完成整個流程，以測量過濾器的初始重量和返回重量。
“推薦閱讀”
- 技術(shù)貼-賽多利斯電子天平bsa系列故障診斷指南免費拿走！
- Entris II BCA 系列賽多利斯天平有哪些特性
- 2023年賽多利斯實驗室產(chǎn)品調(diào)價聲明
- 賽多利斯模塊化實驗室天平 達到制藥行業(yè)所需的結(jié)果準確度和可靠性
- 賽多利斯實驗室設(shè)備和集成稱重解決方案，助力您的電池制造
- 賽多利斯BCE半微量天平故障現(xiàn)象機解決方法
- Cubis 大量程微量天平，用于在制藥實驗室中制備校準標準品
- 實驗室天平在制藥行業(yè)中的應(yīng)用
- 使用Cubis II MCA天平和QApp片劑檢查輕松進行重量測試
- 賽多利斯電子天平Quintix和 Secura實現(xiàn)更高效的工作流程
